在不同温度下半导体材料的电阻变化-热刺激电流试验仪

在不同温度下半导体材料的电阻变化-热刺激电流试验仪

热刺激电流试验仪是一种用于测量材料在不同温度下的电阻变化关系的仪器。热刺激电流试验仪可以用于研究和开发新材料，以及评估现有材料的性能。例如，在电子行业中，这种仪器可以用于测试半导体材料的导电性能，以及研究材料在高温或jiduan环境下的性能变化。

需要注意的是，使用热刺激电流试验仪需要具备一定的专业知识和操作技能，以确保测试结果的准确性和可靠性。同时，在操作仪器时，需要注意安全事项，如避免高温烫伤、避免电流过大等。

华测HTSC-2000热激励电流试验仪，采用冷台的方式进行加温与制冷，测量引用使用低噪声线缆，减少测试导线的影响，同时电极加热采用直流电极加热方式，减少电网谐波对测量仪表的干扰。具有强大测试功能，设备较大支持测试电压10kV，同时测试功能上也增加了高阻测试、击穿测试、也方便扩展介电谱等测量功能。它能够在不同测量条件和测量模式下进行连续和高速的测量，可用一台HC-TSC2000热刺激电流测试仪就能取代功能材料测试众多仪器的测量功能！

优势：

支持的硬件：
外置6517B或其它高压直流电源
外置的高压放大器（+/-100V到+/-10 kV）
块体陶瓷样品夹具
温度控制器和温度腔

测试功能：
热释电测试
漏电流测试
用户定义激励波形