服务热线
010-86460119
日期:2022-07-26浏览:1159次
一、华测高温低电阻测试仪功能特点:
█ 多功能真空加热炉,一体炉膛设计、可实现、高温、真 空、气氛环境下进行测试
█ 采用铂材料作为导线、以减少信号衰减、提高测试精度;
█ 可以测量半导体薄膜材、薄片材料的电阻、电阻率;
█ 可实现常温、变温、恒温条件的I-V、R-T等测量功能;
█ 温度传感器、PID自动温度控制,使测量温度更zhunque;
█ 仪器可自动计算试样的电阻率pv;
█ 10寸触摸屏设计,一体化设计机械结构,更加稳定;
█ 程控电子升压技术,纹波更低、TVS防护系统,仪器安全性;
█ 99氧化铝陶瓷绝缘、碳化钨探针;
█ huace pro 控制分析软件。
二、华测高温低电阻测试仪技术参数:
1、温度范围:室温-1000℃, (反射炉加温 )配水冷机;
2、控温精度:(温控) ±0 5℃ ;
3、测量精度: ± 0.25℃;
4、升温斜率:20℃/min (可设定);
5、降温斜率: 1-200℃/min ( 自调整);
6、测量精度:0.5%;
7、样品规格:直径: 20mm 以内;厚度: 5mm以内;
8、电材料:铂金;
9、测量方式:2 线- 4线测量方式;
10、测量范围: 0.1uΩ- 100MΩ
11、供 电:220V±10%,50Hz;
12、工作环境:0℃ - 55℃;
13、存储条件:- 40℃-70℃;
14、尺 寸:750mmX660mmX360mm;
15、重 量: kg 25
产品型号 | 温度范围 | 设备功能 |
HGTZ-901 | 室温-800C° | 单组试样;片状样品;四探针法;薄膜或薄片状样品;真空、气氛环境 |
HGTZ-902 | 室温-1200C° | 单组试样;片状样品;四探针法;薄膜或薄片状样品;真空、气氛环境 |
HGTZ-903 | 室温-1450C° | 单组试样;片状样品;四探针法;薄膜或薄片状样品;真空、气氛环境 |