高、低温环境下的介电温谱及频谱测量

　　高、低温环境下的介电温谱及频谱测量
 

　　高、低温介电测量系统用于分析宽频、高、低温环境条件下被测样品的阻抗Z、电抗X、导纳Y、电导G、电纳B、电感L、介电损耗D、品质因数Q等物理量，同时还可以分析被测样品随温度、频率、时间、偏压变化的曲线，是专业从事材料介电性能、温度弛豫、电弛豫研究的理想测试工具。用户通过软件可以直接得出介电间、频率、偏压变化的曲线，高温介电测量系统是功能材料测试必bei电学性能评估设备。系統搭配Labview系统开发的hcpro软件，具备弹性的自定义功能，可进行频率、温度、时间、测试项等设置，符合材料测试多样化测试的需求。
 

　　本系统主要用于材料在不同温度不同频率下的电学性能测试，系统包含高、低温环境、阻抗分析仪、测试夹具，测试软件于一体，可测试材料的介电常数，介质损耗，阻抗谱Co-Co图，机电耦合系数等，同时可分析被测样品随温度，频率，时间变化的曲线，测试治具可以根据产品及测试项目要求选购；,实现了自动完成不同环境下的阻抗、介电参数的测量与分析。另外，还可根据用户提供的其他LCR品牌或型号完成定制需求。软件可根据实验方案设计，通过测量C和D值，自动完成介电常数和介电损耗随频率、电压、偏压、温度、时间多维变化的曲线。一次测量，同时输出，测量效率高、数据丰富多样。